广州智品汇电子科技推出电容器直流自愈性试验台 ZH-CBE7800,用于薄膜电容器直流自愈性能检测。薄膜电容介质存在微小缺陷时,高压下会发生局部击穿,优质产品具备自愈能力,消除局部缺陷。
普通耐压测试无法考核自愈特性。设备依据 GB/T 10190 标准,施加直流高压,监测击穿、自愈过程的电流变化,记录自愈次数与残余性能,帮助研发人员评估介质膜自愈可靠性。广州智品汇专注电子元器件可靠性检测装备,为元件检测实验室提供标准化直流自愈测试方案。