广州智品汇电子科技推出高压薄膜电容直流自愈性能检测台 ZH-CBE-7800,专门针对金属化高压薄膜电容开展直流升压自愈击穿试验,检验电容介质局部击穿后的自愈修复能力,评估膜层材料、金属化工艺的可靠性与安全冗余。
设备可灵活设定直流升压速率、保压时间,高速采集击穿瞬间电压、电流、容量变化,自动记录自愈次数、压降曲线与事件时序。设备依据 GB/T 17702、GB/T 12747 电力电子电容器标准设计,配置高压安全联锁、防爆试验腔体,适用于高压薄膜电容新品研发摸底、型式认证试验。