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插拔温升综合测试台

2026-06-08
广州智品汇电子科技插拔温升综合测试台,解决的是连接器行业一个隐蔽的问题:接触不良不是突然发生的,是慢慢恶化的,而恶化过程中温升是先行指标。
一个充电枪插座的触点,新的时候接触电阻0.5mΩ,温升20K。插了1000次后,接触电阻可能还是0.5mΩ,但表面氧化层开始形成,插拔力变化了,实际接触面积在减小。这时候温升可能还是20K,但趋势已经不对。插到3000次,接触电阻涨到1mΩ,温升跳到40K,但这时候产品已经不合格了。问题是:这个恶化过程是连续的,你用传统的"插拔寿命测试+结束后测一次温升"的方法,根本抓不到中间的变化。

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这台设备的做法是:每插拔一次,测一次温升。插拔机构用伺服电机驱动,插拔速度、插入深度、保持时间可编程。插入到位后,自动接通测试电流,热电偶实时测温,记录本次插拔后的温升值。5000次插拔,就有5000个温升数据点。画出温升-插拔次数曲线,恶化趋势一目了然。
插拔力也同步测量。插入力、拔出力、保持力,三个力值和温升数据对应。你可以看到:第2000次插拔时,拔出力从80N降到60N,同时温升从20K涨到25K——这说明接触簧片弹性在退化,接触压力减小,虽然还没超标,但趋势已经预警。
电流加载部分采用软启动,插拔瞬间不冲击触点。测试电流0-300A可调,因为不同连接器的额定电流差异大。热电偶布置在触点最热点,用微型热电偶或红外点温仪,不干扰插拔动作。
符合GB/T 11918.1-2014《工业用插头插座和耦合器 第1部分:通用要求》、IEC 62196-1《电动汽车传导充电系统 第1部分:通用要求》中关于插拔寿命和温升的联合测试要求。有一个做储能连接器的客户,产品标称插拔寿命5000次,但用户反馈2000次后温升超标。用我们的设备复测,发现是插拔速度太快,触点表面镀层在快速摩擦下剥落加速。调整插拔速度参数后,寿命验证通过。



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